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                                                             KXR-4100 双转角晶片测角机


描述:

1:KXR-4100用于双转角石英晶片的角度测量。

2:采用低功率x射线源实现双转角晶片角度的精确测量。

3:可根据用户指定的转角范围进行产品定制。

4:可根据用户指定的晶片规格提供自动分类方案。

 


技术参数:

长宽高:长(725mm)×宽(715mm)×高(1450mm)

重量:198KG

输入电源:220V +/- 10%, 50~60Hz, 0.65A

输入气源:0.5MPa, 20L/min洁净气源

衍射方式:二次衍射

光路调整方式:  可控光轨调整装置

可测量晶片规格:X向12~40mm,Z向12~40mm

                           Φ:18°30′0″- 26°00′0″

                           θ:33°15′0″- 34°30′0″

操作方式:手工置片,自动整理,自动测量

人机界面:8英吋TFT触摸屏

 


部分图片:

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